Kortegolf-infrarood (SWIR) is een speciaal ontworpen optische lens die is ontworpen om kortegolf-infraroodlicht op te vangen dat niet direct waarneembaar is voor het menselijk oog. Deze band wordt gewoonlijk aangeduid als licht met golflengten van 0,9 tot 1,7 micron. Het werkingsprincipe van de kortegolf-infraroodlens hangt af van de transmissie-eigenschappen van het materiaal voor een specifieke golflengte van licht, en met behulp van gespecialiseerde optische materialen en coatingtechnologie kan de lens kortegolf-infraroodlicht vakkundig geleiden terwijl zichtbaar licht wordt onderdrukt. licht en andere ongewenste golflengten.
De belangrijkste kenmerken zijn:
1. Hoge transmissie en spectrale selectiviteit:SWIR-lenzen maken gebruik van gespecialiseerde optische materialen en coatingtechnologie om een hoge transmissie te bereiken binnen de kortegolf-infraroodband (0,9 tot 1,7 micron) en beschikken over spectrale selectiviteit, waardoor de identificatie en geleiding van specifieke golflengten van infrarood licht en de remming van andere golflengten van licht worden vergemakkelijkt .
2. Chemische corrosieweerstand en thermische stabiliteit:Het materiaal en de coating van de lens vertonen een uitstekende chemische en thermische stabiliteit en kunnen de optische prestaties behouden onder extreme temperatuurschommelingen en diverse omgevingsomstandigheden.
3. Hoge resolutie en lage vervorming:SWIR-lenzen vertonen optische kenmerken met een hoge resolutie, lage vervorming en snelle respons en voldoen aan de eisen van beeldvorming met hoge definitie.
Kortegolf-infraroodlenzen worden op grote schaal gebruikt op het gebied van industriële inspectie. In het productieproces van halfgeleiders kunnen SWIR-lenzen bijvoorbeeld fouten in siliciumwafels detecteren die moeilijk te detecteren zijn onder zichtbaar licht. Kortegolf-infraroodbeeldvormingstechnologie kan de nauwkeurigheid en efficiëntie van waferinspectie vergroten, waardoor de productiekosten worden verlaagd en de productkwaliteit wordt verbeterd.
Kortegolf-infraroodlenzen spelen een cruciale rol bij de inspectie van halfgeleiderwafels. Omdat kortegolf-infraroodlicht silicium kan doordringen, zorgt dit kenmerk ervoor dat kortegolf-infraroodlenzen defecten in siliciumwafels kunnen detecteren. De wafel kan bijvoorbeeld scheuren vertonen als gevolg van restspanning tijdens het productieproces, en deze scheuren zullen, als ze niet worden opgemerkt, rechtstreeks van invloed zijn op de opbrengst en productiekosten van de uiteindelijk voltooide IC-chip. Door gebruik te maken van kortegolf-infraroodlenzen kunnen dergelijke defecten effectief worden opgemerkt, waardoor de productie-efficiëntie en productkwaliteit worden bevorderd.
In praktische toepassingen kunnen kortegolf-infraroodlenzen contrastrijke beelden opleveren, waardoor zelfs kleine defecten opvallend zichtbaar worden. De toepassing van deze detectietechnologie verbetert niet alleen de nauwkeurigheid van de detectie, maar vermindert ook de kosten en tijd van handmatige detectie. Volgens het marktonderzoeksrapport stijgt de vraag naar kortegolf-infraroodlenzen op de markt voor halfgeleiderdetectie jaar na jaar en zal naar verwachting de komende jaren een stabiel groeitraject blijven volgen.
Posttijd: 18 november 2024