Kortegolf-infrarood (SWIR) is een speciaal ontworpen optische lens die is ontworpen om kortgolvig infraroodlicht op te vangen dat niet direct door het menselijk oog kan worden waargenomen. Deze band wordt gewoonlijk aangeduid als licht met golflengten van 0,9 tot 1,7 micron. Het werkingsprincipe van de kortegolf-infraroodlens is afhankelijk van de transmissie-eigenschappen van het materiaal voor een specifieke golflengte van het licht. Met behulp van gespecialiseerde optische materialen en coatingtechnologie kan de lens kortgolvig infraroodlicht efficiënt geleiden en tegelijkertijd zichtbaar licht en andere ongewenste golflengten onderdrukken.
De belangrijkste kenmerken zijn:
1. Hoge transmissie en spectrale selectiviteit:SWIR-lenzen maken gebruik van gespecialiseerde optische materialen en coatingtechnologie om een hoge transmissie in de kortegolf-infraroodband (0,9 tot 1,7 micron) te bereiken en bezitten spectrale selectiviteit, waardoor de identificatie en geleiding van specifieke golflengten van infraroodlicht wordt vergemakkelijkt en andere golflengten van licht worden geremd.
2. Chemische corrosiebestendigheid en thermische stabiliteit:Het materiaal en de coating van de lens vertonen een uitstekende chemische en thermische stabiliteit en kunnen optische prestaties blijven leveren bij extreme temperatuurschommelingen en uiteenlopende omgevingsomstandigheden.
3. Hoge resolutie en lage vervorming:SWIR-lenzen kenmerken zich door een hoge resolutie, lage vervorming en snelle optische respons, waardoor ze voldoen aan de eisen voor high-definition beeldvorming.
Kortgolvige infraroodlenzen worden veelvuldig gebruikt in industriële inspectie. Zo kunnen SWIR-lenzen in het halfgeleiderproductieproces bijvoorbeeld onvolkomenheden in siliciumwafers detecteren die moeilijk te detecteren zijn onder zichtbaar licht. Kortgolvige infraroodbeeldtechnologie kan de nauwkeurigheid en efficiëntie van waferinspectie verbeteren, waardoor de productiekosten worden verlaagd en de productkwaliteit wordt verbeterd.
Kortgolvige infraroodlenzen spelen een cruciale rol bij de inspectie van halfgeleiderwafers. Omdat kortgolvig infraroodlicht silicium kan doordringen, stelt deze eigenschap kortgolvige infraroodlenzen in staat om defecten in siliciumwafers te detecteren. De wafer kan bijvoorbeeld scheuren vertonen als gevolg van restspanning tijdens het productieproces. Indien deze scheuren niet worden gedetecteerd, hebben ze een directe invloed op de opbrengst en productiekosten van de uiteindelijke IC-chip. Door gebruik te maken van kortgolvige infraroodlenzen kunnen dergelijke defecten effectief worden opgespoord, wat de productie-efficiëntie en productkwaliteit bevordert.
In praktische toepassingen kunnen kortegolf-infraroodlenzen contrastrijke beelden opleveren, waardoor zelfs kleine defecten duidelijk zichtbaar worden. De toepassing van deze detectietechnologie verbetert niet alleen de detectienauwkeurigheid, maar vermindert ook de kosten en tijd die nodig zijn voor handmatige detectie. Volgens het marktonderzoeksrapport neemt de vraag naar kortegolf-infraroodlenzen in de markt voor halfgeleiderdetectie jaar na jaar toe en zal deze naar verwachting de komende jaren een stabiele groei doormaken.
Plaatsingstijd: 18-11-2024